離子遷移現象的捕捉

什么是離子遷移現象？

形成枝晶是電極間短路的現象。

離子遷移現象的特征：

●會在良好的絕緣的狀態下突然發生。

●短路的瞬間，因為自身電流的能量（焦耳熱），枝晶被燒損，然后恢復絕緣電阻。

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所以很容易變成瞬間的絕緣劣化現象。

 

離子遷移的信賴性試驗的作用：

●在某些領域是重大故障

●即便是瞬間的短路現象，在現在高速數字化處理電路中誘發錯誤動作，在某些情況，有發展成為重大故障的風險。

 

試驗方法是否有效？

現廣泛被使用的槽外計測，離子遷移現象是檢測不出的。所以，NG的測試樣品也直接被認定OK了。

 

市面上的遷移試驗裝置是否都能進行準確檢測？

離子遷移是瞬間現象。即便是持續的監視試驗裝置，通道掃描或數據處理需要一定時間，正確地捕捉現象進行適當的處理就變得很難。

 

作為試驗裝置的重要事項

●有能力準確檢測出發生枝晶的瞬間短路現象。

●在多個樣品同時測試中，什么時候哪個樣品發生離子遷移，都可以檢測到。

●為了預防枝晶燒損，顯微鏡觀察時等的證據可以查看。

 

高速抽樣處理

●J-RAS是業界最高速，16msec（62.5S/s）。

●能夠進行離子遷移的瞬間現象捕捉。

●不只是單一的短路現象事件，而是作為電阻值的連續數據被記錄。

 

因離子遷移現象導致的電阻值變化如以下情況：



高速抽樣處理的情況：



抽樣處理慢的情況：



高速與普通處理，檢測結果有很大偏差：



全部通道同時抽樣處理：

●J-RAS是所有通道的數據同時抽樣處理。

●假如離子遷移現象同時多個通道發生，數據也不會漏掉。更準確高效得檢測樣品。

多個通道同時發生離子遷移現象的情況如下：



單一AD掃描的話，與通道數成反比例，發生通道數越多越不準確。



每個通道都分別配有AD，可以同時監測所有通道。



 

J-RAS的模擬電路能夠防止枝晶燒損

●設備配有電流限制電路，即便枝晶短路，也不會給樣品輸入超范圍的電力。

●高速16msec的抽樣處理，及時檢出電阻值低下，把模擬電路的偏壓輸出功率及時停止。（根據判定條件設定）

 

高速、多通道同時抽樣，J-RAS能夠大量數據并行處理。



 

簡而言之，J-RAS設備的高速、多通道并行處理，能夠更可靠的檢測出遷移現象。